EPS-02可以预先测量，确定发生位置并检查对电子设备开发必不可少的EMC对策中的对策效果。透过颜色办别从摄影机图像中检测电磁场探棒的位置，对测得的讯号进行即时频率分析，并将电磁场强度水平叠加在要测量设备的实际图形上，并以热像图形式显示。

• 在测量干扰量时可用作对策工具
• 可轻松检查噪声产生因素和分析
• 可轻松检查前后下对策的比较
• 透过更换探棒，可以从整个产品到单个零件进行测量
• 可以使用因子编辑器来校正天线特性、电缆损耗、前置放大器等
• 紧凑且方便携带
• 可以使用客户自己的频谱仪或电磁场探棒来构建系统(需讨论确认支援型号)

欢迎与我们连络安排介绍展示 !!