天线暗室(Antenna Chamber)

近场量测

近场量测

伯坚所提供的近场量测设备,均采用来自全球近场技术先驱的NSI-MI无线射频测量解决方案。近场量测是为了诊断无线通讯设备的天线稳定度,从而提高产品的精确度与吞吐量。常用的近场测量技术包括平面(PNF)、圆柱(CNF)与球型(SNF)测量系统。每种近场扫描解决方案都会有不同的测量方式与特点,若你对近场量测有任何疑问,也不妨直接联络我们

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