边缘保持方式
采用不接触背面的方式,将晶圆的颗粒物污染控制在最小 支持直径200MM晶圆的机械钳方式校正机。
- 只接触晶圆的边缘,实现了清洁定位的概念。
- 自动识别晶圆的V型切口及定向平面,省略了上级控制器的设定。
- 也可以支持化合物半导体及玻璃晶圆(请另行洽询)
- 内置型控制器的紧密设计。
| 适用对象 | φ200mm |
| SEMI/JEIDA规格晶片 | |
| 处理时间 | 9秒以内(不换手时) |
| 23秒以内(换手时) | |
| 处理精度 | θ:±0.2°以内(3σ) |
| 处理范围 | ±1mm以内 (晶片偏心量) |
| 晶圆保持方式 | 夹持边缘 |
| 晶片保持确认 | Photo micro sensor |
| 通信规格 | RS-232C(串行通信) |
| 适用电源 | 电源:DC24V±10% 3A 1系统 |
| 重量 | 本体:约8kg |
永远超越客户的期待
ALWAYS GOES BEYOND CUSTOMERS' EXPECTATIONS